深圳納加霍里科技專業(yè)代理銷售 日本KITA半導體器件彈簧探針開爾文接觸（4 端子連接）產(chǎn)品特點如下：

日本KITA半導體器件彈簧探針開爾文接觸（4 端子連接）開爾文接觸（4端子連接）是一種高精度測試技術(shù)，主要用于半導體芯片、晶圓、封裝測試等領(lǐng)域的電氣性能測量。

1. 開爾文接觸（4端子連接）原理

開爾文連接（Kelvin Connection）通過分離電流施加和電壓測量的路徑，消除導線和接觸電阻的影響，顯著提升小電阻或低電壓信號的測量精度：

電流路徑（Force線）：提供測試電流。

電壓路徑（Sense線）：獨立測量被測器件兩端的電壓，避免電流路徑的壓降干擾。

2. KITA彈簧探針的關(guān)鍵設計

KITA的彈簧探針針對開爾文測試優(yōu)化，具有以下特性：

獨立隔離的4端子：每個探針包含兩個彈簧觸點（Force/Sense），物理隔離以減少串擾。

高精度材料：使用鈹銅、鈀合金等低電阻且耐磨損材料，確保長期穩(wěn)定性。

微細間距適配：支持高密度布局，適用于微小焊盤或凸塊（如BGA、CSP封裝）。

彈性行程控制：彈簧結(jié)構(gòu)提供穩(wěn)定的接觸壓力，避免損傷被測表面。

3. 典型應用場景

晶圓測試（Wafer Probing）：測量晶體管、二極管、電阻的IV特性。

封裝測試（Package Test）：驗證封裝后器件的導通性和阻抗。

高精度參數(shù)分析：如接觸電阻（幾毫歐級）、導通電阻（RDS(on)）等。

4. 優(yōu)勢

降低接觸誤差：消除探針與焊盤之間的接觸電阻影響。

高重復性：彈簧結(jié)構(gòu)保證多次測試的接觸一致性。

兼容自動化：適配探針卡（Probe Card）或測試插座（Test Socket）。

5. 與其他技術(shù)的對比

公司代理和銷售優(yōu)勢品牌明細